研发资源 > 标签 > DFT测试
|相关应用领域

提高DFT测试覆盖率的方法

 发布时间：2020-10-26
伴随着现代大规模集成电路制造工艺的快速发展.设计工程师必需直面芯片制造过程中可能产生的物理缺陷.现今流行的可测试性设计(DFT:Design For Testability)应运而生.并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的 ...<全部>
  • 100
上一个 下一个
|最新活动
第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场

第26届高交会元宇宙完美收官，数字化参会体验引爆全场
|相关标签
|热门文章
提高DFT测试覆盖率的方法

技术

硬件开发 EMC IC封装设计 射频RF 单片机IMCU 信号完整性 FPGA 电源 PCB设计 物联网 PCB工艺 PCBA

阅读

电子汇 最新资讯 EDA365原创吧

资源

公开课 研讨会 在线计算器

互动

论坛 外包
电巢APP下载电巢APP下载
关于我们 ｜ 手机版 ｜ EDA365电子论坛网 (粤ICP备18020198号)
GMT, 2020-03-13 09:00 , Processed in 0.109375 second(s), 13 queries , Gzip On.